理学院学术报告—从工程师角度看ATE测试

报告题目：从工程师角度看ATE测试

报 告 人：高山川

报告时间：2023年12月1日下午14:00

报告地点：4A103

主办单位：理学院

报告人简介：

高山川，北京信诺达泰思特科技股份有限公司高级工程师，在半导体集成电路自动测试领域有多年的工作经验，目前主要负责ATE（Automatic Test Equipment）设备研发、信诺达军口版块技术支持与测试程序开发，同时，兼任信诺达成都分公司的技术负责人，发表期刊论文2篇。

内容简介：

ATE（Automatic Test Equipment）测试：即在专用自动化测试设备上进行开发和测试。在大批量复杂集成电路测试中，传统仪表搭建环境效率低下，可复制性差，且对测试人员水平和动手能力要求高；ATE对已有测试程序及适配器的可移植性极好，资源也很丰富，能最大程度上满足测试需求。集成电路测试贯穿整个芯片设计、生产制造及使用环节，对于检测集成电路功能完整、性能合规尤为重要。国内外当前ATE测试发展迅速，市面上已出现多种型号设备；然而，熟悉ATE测试开发的工程师却严重短缺。国外设备领先我们1.5~2代，某些高端设备已开始停止向中国输入，如果同学们想从事芯片测试工作，需要具备的基础知识有哪些？应该如何培养自己成为一名ATE工程师。